Werth lanserar Raster Scanning HD
Werth Messtechnik lanserar en banbrytande metod för optisk mätning inom elektronik- och halvledarindustrin: Raster Scanning HD. Tekniken möjliggör mäthastigheter som tidigare inte varit möjliga, särskilt vid mätning av Through Glass Vias (TGV).
Raster Scanning HD bygger på att stora ytor skannas i extremt hög upplösning, vilket är avgörande för avancerad kapslingsteknik. Till exempel kan perforerade glasplattor (ca 600 mm x 600 mm) innehålla upp till en miljon mikroskopiska hål som måste mätas fullständigt. Med Werth VideoCheck® HA och det patenterade driftsläget uppnås en komplett bild med upp till 20 000 megapixlar.
För att säkerställa fullständig kvalitetskontroll kombinerar Werth den optiska skanningen med taktila och kromatiska sensorer. Werth Fiber Probe® används för att mäta formfel inuti de mikroskopiska borrhålen, medan sensorn Chromatic Focus Point mäter glasplattans tjocklek och planhet.
BREAKING